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GB/T 18857-2002 配电线路带电作业技术导则

时间:2024-05-18 15:19:52 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8487
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基本信息
标准名称:配电线路带电作业技术导则
英文名称:Technical guide for live working in distribution line
中标分类: 电工 >> 输变电设备 >> 输变电设备综合
ICS分类: 电气工程 >> 输电网和配电网 >> 输电网和配电网综合
替代情况:被GB/T 18857-2008代替
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2002-10-08
实施日期:2003-04-01
首发日期:2002-10-08
作废日期:2010-02-01
主管部门:中国电力企业联合会
提出单位:国家经济贸易委员会
归口单位:全国带电作业标准化技术委员会
起草单位:武汉高压研究所、福建省电力公司、厦门电业局、江苏省电力公司
起草人:胡毅、刘松喜、李超英、刘伟平、翁旭、丁荣、战福利、易辉
出版社:中国标准出版社
出版日期:2003-04-01
页数:平装16开, 页数:32, 字数:59千字
书号:155066.1-19145
适用范围

本标准规定了10kV电压等级配电线路带电作业的作业方式、绝缘工具、防护用具、操作要领及安全措施等。本标准适用于10kV电压等级配电线路的带电检修和维护作业。3kV、6kV配电线路的带电作业可参照本标准。鉴于各地电气设备型式多样,作业项目种类较多,因此本标准在作业项目及操作方法上只作原则指导。本标准为推荐性标准,附录A、附录B为提示的附录,可供在作业中起参考作用。

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引用标准

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所属分类: 电工 输变电设备 输变电设备综合 电气工程 输电网和配电网 输电网和配电网综合
基本信息
标准名称:钨矿石、钼矿石化学分析方法 第14部分:镓量测定
英文名称:Methods for chemical analysis of tungsten ores and molybdenum ores - Part 14:Determination of gallium content
中标分类: 矿业 >> 有色金属矿 >> 有色金属矿综合
ICS分类: 采矿和矿产品 >> 金属矿
替代情况:替代GB/T 14352.14-1993
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2010-11-10
实施日期:2011-02-01
首发日期:1993-05-12
作废日期:
主管部门:全国国土资源标准化技术委员会
提出单位:中华人民共和国国土资源部
归口单位:469-93 全国国土资源标准化技术委员会
起草单位:国家地质实验测试中心、江苏省地质调查研究院(国土资源部南京矿产资源监督检测中心)
起草人:肖灵、周康民
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-02-01
页数:8页
书号:155066.1-41002
适用范围

GB/T14352的本部分规定了钨矿石、钼矿石中镓量的测定方法。
本部分适用于钨矿石、钼矿石中镓量的测定。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过GB/T14352的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T6682 分析实验室用水规格和试验方法
GB/T14505 岩石和矿石化学分析方法 总则及一般规定

所属分类: 矿业 有色金属矿 有色金属矿综合 采矿和矿产品 金属矿
【英文标准名称】:Solarwafers-Part4-2:Processformeasuringtheelectricalcharacteristicsofsilicon-Minoritycarrierlifetime,Laboratorymeasuringmethod
【原文标准名称】:太阳能硅片.第4-2部分:硅电气特性的测量程序.实验室测量法测定少数载流子寿命
【标准号】:DINVVDEV0126-18-4-2-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电荷载体;结晶体;圆盘;电气工程;电性能;电子;实验室试验;寿命;测量;测量技术;测量方法;光电器件;性能;半导体材料;半导体工艺;半导体;硅;硅片;太阳能电池;太阳能工艺
【英文主题词】:Chargecarriers;Crystalline;Disks;Electricalengineering;Electricalproperties;Electrons;Laboratorytests;Life(durability);Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Photovoltaics;Properties;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:德语