【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringResistivityofSiliconWafersUsingaSpreadingResistanceProbe
【原文标准名称】:用分布阻抗探头测量硅片电阻率的方法
【标准号】:ASTMF525-1988
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:压扁试验;垫圈;电子工程;垫片;电阻器;测量;硅
【英文主题词】:measurement;electronicengineering;washers;wafers;flatteningtests;resistors;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 颜料易分散程度的比较 振荡法 |
| 英文名称： | Comparison of ease of dispersion of pigments; Oscillatory shaking method |
| 中标分类： |
化工 >>
涂料、颜料、染料 >>
颜料基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
涂料和颜料工业 >>
涂料配料 >>
颜料和填充剂
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| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1988-04-19 |
| 实施日期： | 1989-01-01 |
| 首发日期： | 1988-06-04 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 中国石油和化学工业协会 |
| 提出单位： | 全国涂料和颜料标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国涂料和颜料标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 轻工部食品发酵所 |
| 起草人： | 夏忠昭、郑文娟 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1989-01-01 |
| 页数： | 4页 |
适用范围
本标准是适用于两种类似颜料在指定介质中的易分散程度比较的通用试验方法。试验结果是以在一专用仪器中达到规定细度所需的时间或用研磨30min后达到的细度来表示。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 化工 涂料 颜料 染料 颜料基础标准与通用方法 涂料和颜料工业 涂料配料 颜料和填充剂